LA QUALITÉ 
--------------------------------------------- 
Statistical Process Control
ou MSP Maîtrise Statistique des Procédés  Pourquoi ce stage ?
L’objectif du stage est d’améliorer la qualité en appliquant la Maîtrise Statistique des Procédés ou SPC (Statistical Process Control), méthode préventive permettant de réduire les coûts de non qualité et de réagir rapidement à toute dérive du processus.
Les participants quitteront le stage en ayant acquis les connaissances indispensables en matière de SPC. A qui est-il adresse ? De préférence à des techniciens et ingénieurs des services qualité, méthodes ou production. Objectifs du seminaire • Connaître et appliquer la méthode MSP / SPC.
• Mettre en place ou améliorer un contrôle statistique en production.
• Comprendre le principe de centrage du procédé. Points clefs La méthode SPC permet aux opérateurs de déceler rapidement les premiers signes annonçant les problèmes avant qu’ils ne se transforment en arrêt de production ou défauts. Pour être efficace, il est nécessaire d’identifier les points clefs du processus qui feront l’objet d’une carte de contrôle.
• Améliore le processus.
• Méthode préventive.
• Outil visuel. Itineraire Pedagogique Contenu de la formation :
Partie 1 : Présentation de la méthode M.S.P. (ou S.P.C.)
• Les préliminaires à sa mise en place
• L’importance de la communication auprès des opérateurs Partie 2 : Les statistiques dans le M.S.P.
• Les termes statistiques à connaître
• La distribution de Laplace-Gauss
• Rappels statistiques
• Exemple de calcul d’un écart-type Partie 3 : Les cartes de contrôle et R pour grandeurs mesurables avec prélèvement d’un échantillon n supérieur à 2
• Méthode de calcul des limites de contrôle
• Dispersion et taux de maîtrise
• L’interprétation des cartes de contrôle
• Stabilité et instabilité des mesures 3.1 Utilisation des cartes de contrôle
• Mise en place des cartes de contrôles
• L’interprétation des cartes de contrôle
• L’importance de la tenue des journaux de bord
• Applications S.P.C. Qualité : cartes X et R 3.2 Les capabilités
• La mesure de la capabilité machine et capabilité procédé
• Les termes utilisés pour mesurer la capabilité
• Relation capabilités et fonction perte de Taguchi
• Applications. Capabilité : Calcul de capabilité procédé Cm et Cmk
• Tracé de la droite de Henry
• Tracé des cartes de contrôle
• Calcul des indicateurs de capabilité Cp et Cpk 3.3 Le principe de la méthode Six Sigma 3.4 Les cartes attributs 3.5 Relation AMDEC et Capabilité METHODES PEDAGOGIQUES • Support de cours distribué à chaque stagiaire.
• Apports théoriques et pratiques de la part du formateur.
• Mise à disposition de moyens informatiques par le consultant-formateur.
• Possibilité de démonstration SPC avec un logiciel statistique.
• Possibilités de réaliser des études de cas en rapport avec l’entreprise.
• Participation active des stagiaires (connaissance et expérience de leur secteur d’activité).
OO | 
